测试程序集,test program set
test program set(TPS)测试程序集
1.Aiming at the function requirements of general-purpose PCB test software,puts forward the architecture and design method of general-purpose development environment and running environment of test program set(TPS),introduces fault diagnosis method based on dependent model and the concept of test method library.自动测试系统(ATS)的发展趋势是通用化,通用化的关键是系统设计采用相关测试标准和开放式的软件结构;针对电路板测试软件通用化的功能需求,提出了测试程序集(TPS)的通用开发环境和执行环境的软件结构和实现方法,介绍了基于依赖性模型的故障诊断方法和测试方法库的概念;该软件的主要特点:1)采用开放式软件结构;2)通用测试方法库的使用和和简洁的测试树开发界面提高了TPS的开发效率;3)多媒体信息查询使故障检测和故障隔离更容易;目前,该通用ATS软件已成功应用于多个自动测试系统,不仅显著缩短了系统的开发时间,而且减少了软件的开发费用。
2.The platform can be used in testing of test program set(TPS) in auto test system(ATS) design.设计并实现了一个面向被测设备(UUT)的开放式测试仿真平台,可用于各种通用自动测试系统(ATS)研制开发过程中测试程序集(TPS)的调试与性能验证。
3)TPS测试程序集
1.The test program set (TPS) of the relay output board RA1-01 which has been brought into wide use and often breaks down in monitoring and control system was developed.以CODOG动力装置监控系统使用广泛、故障率较高的电路板RA1-01继电器输出板为例,选取BDS—9210柜式VXI自动测试设备作为测试平台,介绍RA1-01的测试程序集(TPS)的开发过程。
4)test program set (TPS)测试程序集(TPS)
5)software test set软件测试(程序)集
6)NAS parallel benchmaNAS基准测试程序集
延伸阅读
集成电路测试程序集成电路测试程序integrated circuit test program成，以及多测试系统(系列)之间测试程序的交互移植。由n个模拟器和、个测试系统(系列)组成的多通路链接，需要相应n xm个格式转换器。如果每当一个新的格式进人CAD/CAE或者CAT环境时，必须立即补充开发一个新的转换器集合，其结果将是开发和维护程序的成本大幅度提高，而且这个庞大和相互独立转换器集合的管理将非常困难。为了解决测试和设计之间这个多通路链接的n xm复杂性问题，合理的办法是设计和实现一种中间(中介)格式。原来需要从每一种模拟器文件转换到每一种测试系统(系列)测试程序，现在只需要转换到中间格式;当需要目标测试系统测试程序时，只需将这个已经没有不同模拟器属性的中间格式程序进行划一的测试程序转换即可。多通路链接的转换器复杂性降为n十，。图2是具有中间格式的双向链接模型。链接必须是双向的，以便测试结果数据返回到设计部门，便于设计工程师对原始设计数据进行必要的修改，以进行再模拟。复杂性的降低可节省相当的资源和相应的维护开销。图2双向测试和设计链接模型近来，由于EDIF，CADDIF，WAVES等不同类型电气数据交换标准格式或中间格式的推广，测试和设计链接新结构取得了长足进展，很多在市场上流通的产品都具有相应的链接能力，在减少产品从设计到上市时间，提高产品测试质量等方面，取得了明显的效果。(11)最新的数据采集范围很宽，可以是任何一次测试中的实际测量值，也可以是单参数、双参数或三维参数搜索数据，这些数据是以绝对值、图形、图表、波形、直方图、Shi刊刀图或报表等表示的结果形式。(12)有效的历史数据包括标准偏差、平均值、峰值、参数分布等，也可以是一个或几个被测电路的一次或一组测试的三维段讯100图。(13)分类在测试序列结尾处，或实时地在测试执行期间分析测试结果数据并确定该被测集成电路的分类。测试程序生成当前，计算机辅助设计((泊D)与计算机辅助工程(CAE)已广泛用于产品发展的全过程，在测试领域广泛应用的是计算机辅助测试(CAT)。测试自动化是将被测集成电路的基准电气特性存储在计算机的存储器中，测试时与自动测试系统环境中运行被测电路的实际特性进行比较，并给出合格、失效或其它判断。为此，需要借助计算技术建立被测集成电路基准电气模型;需要计算机对自动测试系统进行侧试数据控制和测试过程控制;需要用计算机将测试结果数据进行相应计算和分析，以给出生产质量控制数据、生产过程控制数据，并进行生产管理。
